高频高密度大容量 DDR5 内存发生位翻转的概率相当的高,并非“只有宇宙射线才会导致位翻转”

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最近把笔记本的内存换成了两根双面 48G DDR5 5600MHz 的内存条,进行了一下烤内存测试,发现实际上位翻转问题是相当严重的:

  • 将笔记本平放在桌面上,烤机十分钟左右内存温度达到 96℃,然后再过十分钟有相当高几率发生内存错误(位翻转)
  • 改善散热条件,使用暴力抽风散热器控制温度在 80 左右,位翻转问题不再出现

检索相关资料,发现还有更多人遇到这种情况:

  • 有人的神舟笔记本,模具设计有严重缺陷,内存条温度甚至可以达到 120℃,然后系统在短时间内即蓝屏
  • 华硕部分笔记本散热设计严重不佳,玩游戏经常达到 100℃以上然后导致内存问题游戏崩溃

可见现代笔记本工况(高密度,大容量,高频率,高温)下,位翻转问题是十分常见的,并非一般人所认识的—“只有辐射会导致位翻转,普通一辈子遇不到”实际上高温下环境几分钟就出现了。

DDR5 加入了片上 checksum 机制,大概也是因为位翻转问题太严重了所致

正文完
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